Joint Test Action Group. O grupo de acção conjunta de teste foi formado em 1985 para desenvolver metodologias de teste econômica para sistemas projetados em torno de circuitos integrados complexos e montado com tecnologias de montagem em superfície. O grupo elaborou um padrão que posteriormente foi adotado pelo IEEE como padrão IEEE 1149.1-1990, "IEEE Standard Test acesso Porto e Boundary-Scan arquitetura". Consulte também limite de varredura; teste a porta de acesso (TAP).